高效率的检验系统leica dm8000 m & dm12000 m
产品详情
半导体行业的晶片检验、过程控制和缺陷分析都必须快速、*及符合人机工程学。 徕卡显微系统有限公司最近推出了符合这些要求的*系列产品，即：适用于 8 英寸晶体的 Leica DM8000 M 和适用于 12 英寸晶体的 Leica DM12000 M。
徕卡 DM8000 M 和 DM12000 M 金相显微镜更带有内置宏观模式，视野可以达到传统扫描
物镜的 4 倍，看到更多也就意味着更快的工作效率。新的斜射紫外线（OUV）模式组合了斜射照明和紫外线，让您可以从任何角度以*分辨率观察家样品 - 而且提供了检验结果的精度。
